X射線吸收精細結構(XAFS)譜儀(同步輻射X射線吸收近邊結構)憑借創新技術設計,突破了傳統測量限制,利用常規X光源即可實現XAFS光譜測量。這一特性使其對同步輻射等重大科技基礎設施,以及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器形成了較佳的補充與拓展,有效拓寬了X射線光譜測量的應用場景與覆蓋范圍。
作為一款小型化桌面式系統,該譜儀具備高的易用性,全面適配不同用戶的操作需求。設備支持近邊快掃功能,大幅提升測量效率;同時兼容原位測試等擴展功能,可滿足多樣化的實驗場景需求。在設計上,采用人體工學高度設計,讓操作更符合人體習慣,降低長時間操作的疲勞感;內置實驗參數預置功能,能夠快速啟動測量流程,減少參數調試時間;針對不同樣品、不同測量模式,可實現一鍵自動切換,簡化操作步驟。此外,儀器支持遠程數據傳輸,能實時顯示實驗進程與結果,可開展無人值守測試,進一步提升實驗便利性與靈活性。更值得一提的是,設備配備專業的應用技術支持與數據分析支持,助力用戶高效完成實驗研究;同時具備輻射豁免資質和多重安全防護聯鎖,全面保障人身與使用安全。
專用彎晶作為譜儀的核心部件,彰顯了設備的精準適配能力。其不同晶面配置齊全,可實現各個元素的測量覆蓋,適配多領域元素分析需求;采用預準直安裝設計,實現即插即用,大幅降低安裝調試難度;還可根據用戶所需測量元素定制特殊彎晶,確保設備達到最佳測量性能,精準匹配個性化實驗需求。
能量掃描機構則為精準測量提供了核心保障。該機構采用聯動設計,能夠實現光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯動,確保各部件協同工作;具備高精度、高分辨率的顯著優勢,且運行穩定性好,可有效保障測量數據的準確性與可靠性,為實驗研究提供堅實的數據支撐。